Конференция по тестированию электроники: как оптимизировать затраты

6 июня 2013 года мы представим свой доклад на первой российской конференции «Тестирование и испытание изделий электронной техники. Проблемы качества», которая пройдет в конгресс-центре МТУСИ в Москве.

Инженер-схемотехник компании Promwad Максим Комков расскажет о тестировании опытных образцов с применением технологии периферийного сканирования JTAG (boundary scan), приведет сравнительную характеристику затрат (временных, стоимостных) по различным видам тестирования, а также объяснит, что нужно учитывать при работе с несколькими подрядчиками на различных этапах проекта.

Разработка любого электронного устройства, включая проектирование аппаратной и программной части, невозможна без тестирования и контроля качества.  Минимизация затрат и выбор оптимальной технологии тестирования — это актуальная тема для каждого заказчика в сфере разработки электроники. Как обеспечить оптимальное качество своего продукта с минимально возможными затратами? Ответ на этот и другие вопросы по тестированию можно будет получить на конференции.

Регистрация участников открыта до 4 июня. Адрес конгресс-центра МТУСИ (Московского технического университета связи и информатики): г. Москва, ул. Авиамоторная 8а (станция метро «Авиамоторная»). Более подробная информация доступна на сайте оргкомитета.